美國雷泰 Raytek CIEB 紅外測溫儀

簡要描述：美國雷泰 Raytek CIEB 紅外測溫儀
是針對微波、熱點監測、包裝行業應用而設計的新一代產品。其采用了不銹鋼與鋁制機身二種材料可選的設計，使其在堅固性與輕便性表現都可兼顧

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廠商性質：經銷商
更新時間：2025-10-27
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美國雷泰 Raytek CIEB 紅外測溫儀

美國雷泰 Raytek CIEB 紅外測溫儀是針對微波、熱點監測、包裝行業應用而設計的新一代產品。其采用了不銹鋼與鋁制機身二種材料可選的設計，使其在堅固性與輕便性表現都可兼顧。延續了CI 系列小光闌孔徑設計，CIX 系列同樣配備了小尺寸光闌，使其在具有很好地防微波穿透的特點。

更加寬泛的測溫范圍提供了從-20~500C 的全量程高精度測溫表現，以前二款產品的范圍現在一款產品可直接實現。同樣的高達 0 .5% 的重復精度讓溫度監測的可靠性有了進一步提升。

對于不同材料的溫度測量，發射率的調整至關重要。這款經濟小巧型的產品在盡可能實用的功能中集成了發射率調整這一功能。通過操作簡單的發射率設置軟件，使用者可以快捷輕松的針對材料特性進行參數調整，讓溫度準確性更進一步。

每一款 CIX 系列測溫儀包括：紅外測溫探頭，泡沫包裝袋，合格證，元素含量說明，快速使用指南。注冊用戶可以在雷泰guan網下載產品的使用手冊并獲得更加專業的產品保修服務。

美國雷泰 Raytek CIEB 紅外測溫儀

• 0-5V 模擬信號輸出
• -20 ~ 500 ℃ 測溫范圍
• 符合 IP65(NEMA-4) 標準的不銹鋼或鋁制機殼
• 4:1 與 6:1 光學分辨率
• 150ms 響應時間
• 0.100~1.100 發射率可調
• 環境操作溫度-10~70℃